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梅特勒天平
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微量天平和超微量天平

产品时间:2021-07-25 10:04:53

简要描述:

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪

详细介绍
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

* 最大称量值
0.8 g / 3.1 g
* 可读性
1 µg / 10 µg

 

标准配置
内置称量应用程序
* TouchScreen触摸屏,方便天平称量和参数设置
* SmartTrac彩色动态图形显示器:图形称量辅助,跟踪称量范围和公差
* 可设置多达10个特定功能的快捷键
* 可定义3个的信息,用于用户和样品标识
* 内置RS232C和两个辅助接口;用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件,实现无需用手接触的称量操作
* 第二接口选件插槽;例如LocalCAN,以太网,RS232,MiniMettler,蓝牙或PS/2等接口选件
* 手动开关门的玻璃防风罩
* 可更换的显示屏保护盖
* 下挂钩称量
* 具有过载保护的称量传感器
 
* 显示多种质量单位
* 差重称量应用程序
* 计件和百分比称量应用程序
* 统计应用程序
 
 
技术参数
 
极限值
XS3DU 双量程
最大称量值
3.1 g
可读性
0.01 mg
最大称量值
0.8 g
可读性
0.001 mg
重复性(sd) - 加载处
0.006 mg
- 低加载(加载处)
0.005 mg (0.2 g)
重复性(sd) - 加载处
0.001 mg
- 低加载(加载处)
0.0008 mg (0.2 g)
线性误差
0.004 mg
四角误差(加载处)1)
0.005 mg (2 g)
 
典型值 4)
典型重复性(sd)
0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性(sd)
√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角误差(sd)
1.2 x (10–6)•R_nt
典型灵敏度偏移(sd)2)
3 x (10–6)•R_nt
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间
< 6 sec 
稳定时间
< 10 sec
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度  sd=标准偏差      Rgr=毛重     Rnt=净重(样品质量)   a=年
*  重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。

 


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